车规元器件可靠性验证（AEC-Q）

实验室涵盖全方位的AEC-Q 标准测试服务，包括AEC-Q100（集成电路）、AEC-Q101（分立半导体）、AEC-Q102（光电半导体）、AEC-Q103（传感器）、AEC-Q104（多芯片模块）、AEC-Q200（无源元件）以及用于开发和改进汽车半导体的综合故障分析和材料分析。

背景资料

随着汽车产业的发展，国内车电企业的份额有望持续提升。同时，随着燃油车向电动汽车需求的快速转变，带动车用元器件高速增长。与此同时，在芯片国产化的大背景下，随着国内车用元器件的兴起，车用电子元器件对可靠性的要求也越来越高。作为车规器件可靠性的验证门槛，AEC-Q系列可靠性验证越来越受到关注。

车用电子主要依据国际汽车电子协会(Automotive Electronics Council，简称AEC)作为车规验证标准，包括AEC-Q100(集成电路IC)、AEC-Q101(分离元器件)、AEC-Q102(离散光电元器件)、AEC-Q103(压力传感器/麦克风) 、AEC-Q104(多芯片模组)、AEC-Q200(被动元器件)。其测试条件虽然比消费型芯片规范严苛，但测试条件仍以JEDEC或MIL-STD为主，另外加入特殊规格，例如电磁兼容性(EMC)验证。

实验室拥有完善的车规器件可靠性验证能力，涵盖全方位的AEC-Q标准测试服务。

标准介绍

服务内容

●  加速环境应力测试

高加速应力测试（HAST）、

温度循环（TC）、功率温度循环（PTC）、

高温存储寿命（HTSL）

● 加速寿命测试

高温工作寿命（HTOL）、早期失效率（ELFR）、数据保持耐久（EDR）

● 封装组装可靠性验证

推拉力测试(Wire Bond Shear/Pull)、

可焊性（SD）、

物理尺寸量测（PD）、

锡球剪切（SBS）、

凸点推力(BST)

● 电气特性测试

静电放电（ESD：HBM/CDM）、

闩锁（LU）、

电磁兼容（EMC）、

短路特性（SC）、

无铅（LF）

● 机械可靠性测试

机械冲击（MS）、

变频振动（VFV）、

恒加速（CA）、

跌落（DROP）、

盖板扭力（LT）、

晶圆剪切（DS）、

内部水汽含量（IWV）、

粗/细漏测试（GFL）

● 模组板级可靠性测试

板级可靠性测试（BLR）、

低温存储寿命（LTSL）、

启动和温度步进（STEP）、

破坏性分析（DPA）、

X射线检测（X-RAY）、

超声波扫描（AM）